過程能力指數計算例題

Ⅰ 過程能力計算題求解

希望對你有所幫助 還望採納~~~

Ⅱ Cpk——過程能力指數是怎麼計算的1.33和1.67等等從何而來.

計算公式：復Cpk=MIN(Tu-μ制，μ-Tl）/（3*σ)。1.33和1.67等是根據計算結果而來的。

min即取小的那個值，TU、TL分別為上、下公差界限；σ為過程統計量的總體標准差；μ為過程統計量的分布均值。

指數意義：

1、Cpk范圍1.67-2過大，可適當放寬檢驗。

2、Cpk范圍1.33-1.67充分，繼續保持。

3、Cpk范圍1-1.33正常，但接近1危險。

4、Cpk范圍小於1，需改進，嚴重時停產需整頓。

(2)過程能力指數計算例題擴展閱讀

計算Cpk的注意事項：

1、分析時，應注意對數據的正確分層，否則可能會發生誤判。

2、對公差界限進行分析時，需要觀察是否有異常點或者離群點出現。

3、當數據較多時，可能會重復數據出現，對重復數據要進行區分，並加以分析。

4、一般情況下，至少應取25組以上的數據進行分析。

5、通常情況下，橫坐標用來表示原因或者自變數，縱坐標用來表示效果或者因變數。

參考資料來源：網路=cpk

Ⅲ 如何正確計算過程能力指數

1、收集數據
2、計算偏差
3、計算CPK
查一下書，找個例子做一下，沒有太深的理論的

Ⅳ 某零件尺寸規格為20± 0.25,抽樣100,Xbar=20.1 s=0.05計算過程能力指數.

Cpk = Min[(Su-Xbar),(Xbar-Sl)]/(3*s)
= (20.25-20.10)/(3*0.05)
= 1.0

Ⅳ ！！！！急！！！！過程能力指數的計算

這是個雙向容差中的X與M不重合的一種狀態,具體解答如下:
cpk=(T-2*(25-24.99))/6*0.006=0.56
cpk
小於0.67,在過程能力等級中屬於第四級,為過程能力不足,一般應停止加工,找出原因,改進工藝,提高cpk,否則需全數檢驗,挑出不合格品.

Ⅵ 過程能力指數及標准差計算求助

你的樣本標准差就錯了，除以5-1=4（n-1再開方）。而且你的樣本標准差未修正，故你肯定是錯的。

Ⅶ 過程能力指數計算習題

Cpk的計算，σ≈σ^ST＝R¯/d2＝S¯/ C4

——Cpk值是分布中心與公差中心不重合情況下的過程能力指數；

——公式Cpk＝（1－Ca）Cp＝（1－ k）Cp；

——當品質規格只有上限單側公差時：Cpu＝（TU－x¯）/3σ

——當品質規格只有下限單側公差時：Cpl＝（x¯－TL）/3σ

Ⅷ 工序能力指數如何計算

工序能力指數的計算方法：
(1)雙側偏差：（Tu、Tl）a，公差中心與分布中心重合：Cp b 不重合Cpk
(2)單側偏差：（Tu或Tl）a，只有上側偏差:CpTu=（Tu-x）/3σ
Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策）
A++級 Cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低
A+ 級 2.0 >Cpk ≥ 1.67 優 應當保持之
A 級 1.67 > Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A+級
B 級 1.33 >Cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為A級
C 級 1.0 >Cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多，必須提升其能力
D 級 0.67 >Cpk>0 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。
一般來說，我們採取的判定基準值為Cpk ≥ 1.33
參考:http://ke..com/link?url=_derU2MHNsFPuzsozzuada

Ⅸ 已知某零件尺寸標准,計算過程能力指數

因為M=（TU＋TL）/2=50.1>x¯=50.05
所以不重合,分布中心向左偏移
偏移量ε＝｜M－x¯｜=50.1-50.05=0.05
偏移系數k＝ε回/（T/2）＝2ε/T=2x0.05/0.4=0.25
過程能力指答數Cpk＝（1－ k）Cp=(T-2ε)/6s=(0.4-2x0.05)/6x0.061=0.820
Cp=T/6s=1.093
不合格品率P=Φ[-3Cp(1+k)]+Φ[-3Cp(1-k)]=Φ(-4)+Φ(-2),查表得出就行

Ⅹ 過程能力指數的演算法

CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]
1、雙側規格

雙側規格情形的過程能力指數，這時，過程能力指數CP的計算公式如下：式中，T為過程統計量的技術規格的公差幅度；TU、TL分別為上、下公差界限；σ為過程統計量的總體標准差，可以在過程處於穩態時得到。
2、有偏移情形
有偏移情形的過程能力指數：當過程統計量的分布均值μ與公差中心M不重合（即有偏移）時，如圖1所示，顯然不合格率（如圖上的PU）增大，也即CP值降低，故式（1）所計算的過程能力指數不能反映有偏移的實際情形，需要加以修正。定義分布的總體均值μ與公差中心M的偏移為ε=|M-μ|，μ與M的偏移度K為：
這樣，當μ=M（即分布中心與公差中心重合，無偏移）時，K=0，則CPK=CP；而當μ=TU或μ=TL時，K=1，CPK=0，表示過程能力由於偏移而嚴重不足，需要採取措施加以糾正。顯然，具有： CPK≤CP
3、單側規格
單側規格情形的過程能力指數：若只有規格上限的要求，而對規格下限無要求，則過程能力指數計算如下：
式中，CPU為上單側過程能力指數。若μ≥TU，令CPU=0，表示過程能力嚴重不足，過程的不合格品率高達50%以上。若只有規格下限的要求。 過程能力指數運算有5種計算方法：
直方圖（兩種繪圖方法）；
散布圖（直線回歸和曲線回歸）（5種）；
計算剩餘標准差；排列圖（自動檢索和排序）；
波動圖（單邊控制規范，也可以是雙邊控制規范）。