过程能力指数计算例题

Ⅰ 过程能力计算题求解

希望对你有所帮助 还望采纳~~~

Ⅱ Cpk——过程能力指数是怎么计算的1.33和1.67等等从何而来.

计算公式：复Cpk=MIN(Tu-μ制，μ-Tl）/（3*σ)。1.33和1.67等是根据计算结果而来的。

min即取小的那个值，TU、TL分别为上、下公差界限；σ为过程统计量的总体标准差；μ为过程统计量的分布均值。

指数意义：

1、Cpk范围1.67-2过大，可适当放宽检验。

2、Cpk范围1.33-1.67充分，继续保持。

3、Cpk范围1-1.33正常，但接近1危险。

4、Cpk范围小于1，需改进，严重时停产需整顿。

(2)过程能力指数计算例题扩展阅读

计算Cpk的注意事项：

1、分析时，应注意对数据的正确分层，否则可能会发生误判。

2、对公差界限进行分析时，需要观察是否有异常点或者离群点出现。

3、当数据较多时，可能会重复数据出现，对重复数据要进行区分，并加以分析。

4、一般情况下，至少应取25组以上的数据进行分析。

5、通常情况下，横坐标用来表示原因或者自变量，纵坐标用来表示效果或者因变量。

参考资料来源：网络=cpk

Ⅲ 如何正确计算过程能力指数

1、收集数据
2、计算偏差
3、计算CPK
查一下书，找个例子做一下，没有太深的理论的

Ⅳ 某零件尺寸规格为20± 0.25,抽样100,Xbar=20.1 s=0.05计算过程能力指数.

Cpk = Min[(Su-Xbar),(Xbar-Sl)]/(3*s)
= (20.25-20.10)/(3*0.05)
= 1.0

Ⅳ ！！！！急！！！！过程能力指数的计算

这是个双向容差中的X与M不重合的一种状态,具体解答如下:
cpk=(T-2*(25-24.99))/6*0.006=0.56
cpk
小于0.67,在过程能力等级中属于第四级,为过程能力不足,一般应停止加工,找出原因,改进工艺,提高cpk,否则需全数检验,挑出不合格品.

Ⅵ 过程能力指数及标准差计算求助

你的样本标准差就错了，除以5-1=4（n-1再开方）。而且你的样本标准差未修正，故你肯定是错的。

Ⅶ 过程能力指数计算习题

Cpk的计算，σ≈σ^ST＝R¯/d2＝S¯/ C4

——Cpk值是分布中心与公差中心不重合情况下的过程能力指数；

——公式Cpk＝（1－Ca）Cp＝（1－ k）Cp；

——当品质规格只有上限单侧公差时：Cpu＝（TU－x¯）/3σ

——当品质规格只有下限单侧公差时：Cpl＝（x¯－TL）/3σ

Ⅷ 工序能力指数如何计算

工序能力指数的计算方法：
(1)双侧偏差：（Tu、Tl）a，公差中心与分布中心重合：Cp b 不重合Cpk
(2)单侧偏差：（Tu或Tl）a，只有上侧偏差:CpTu=（Tu-x）/3σ
Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）
A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低
A+ 级 2.0 >Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之
A 级 1.67 > Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A+级
B 级 1.33 >Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为A级
C 级 1.0 >Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力
D 级 0.67 >Cpk>0 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
一般来说，我们采取的判定基准值为Cpk ≥ 1.33
参考:http://ke..com/link?url=_derU2MHNsFPuzsozzuada

Ⅸ 已知某零件尺寸标准,计算过程能力指数

因为M=（TU＋TL）/2=50.1>x¯=50.05
所以不重合,分布中心向左偏移
偏移量ε＝｜M－x¯｜=50.1-50.05=0.05
偏移系数k＝ε回/（T/2）＝2ε/T=2x0.05/0.4=0.25
过程能力指答数Cpk＝（1－ k）Cp=(T-2ε)/6s=(0.4-2x0.05)/6x0.061=0.820
Cp=T/6s=1.093
不合格品率P=Φ[-3Cp(1+k)]+Φ[-3Cp(1-k)]=Φ(-4)+Φ(-2),查表得出就行

Ⅹ 过程能力指数的算法

CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]
1、双侧规格

双侧规格情形的过程能力指数，这时，过程能力指数CP的计算公式如下：式中，T为过程统计量的技术规格的公差幅度；TU、TL分别为上、下公差界限；σ为过程统计量的总体标准差，可以在过程处于稳态时得到。
2、有偏移情形
有偏移情形的过程能力指数：当过程统计量的分布均值μ与公差中心M不重合（即有偏移）时，如图1所示，显然不合格率（如图上的PU）增大，也即CP值降低，故式（1）所计算的过程能力指数不能反映有偏移的实际情形，需要加以修正。定义分布的总体均值μ与公差中心M的偏移为ε=|M-μ|，μ与M的偏移度K为：
这样，当μ=M（即分布中心与公差中心重合，无偏移）时，K=0，则CPK=CP；而当μ=TU或μ=TL时，K=1，CPK=0，表示过程能力由于偏移而严重不足，需要采取措施加以纠正。显然，具有： CPK≤CP
3、单侧规格
单侧规格情形的过程能力指数：若只有规格上限的要求，而对规格下限无要求，则过程能力指数计算如下：
式中，CPU为上单侧过程能力指数。若μ≥TU，令CPU=0，表示过程能力严重不足，过程的不合格品率高达50%以上。若只有规格下限的要求。 过程能力指数运算有5种计算方法：
直方图（两种绘图方法）；
散布图（直线回归和曲线回归）（5种）；
计算剩余标准差；排列图（自动检索和排序）；
波动图（单边控制规范，也可以是双边控制规范）。